| 是否进口：否 | 产地：美国 | 加工定制：否 |
| 类型：手持式紫外辐照计 | 品牌：美国International Light | 型号：XSD340B |
ILT2400辐照计以手持价格提供研究级质量，采用可分离探头设计，具有8个量级的动态测量范围，测量速度可达100μs，内置可充电电池持续长达8小时，4.3寸触摸屏显示，可横向和纵向查看读数或图形曲线。XSD340B探头响应波段326-401 nm，校准于365nm波长，可测量3e-6 W/cm2至30W/cm2光源辐照强度。ILT测光表和探测器均带NIST可溯源***17025认证校准报告。
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美国International Light Photoresist光阻剂曝光辐照度测光表探头选型
| 辐照计/探头组合 | 响应波长频谱 | 测量范围 | 类型及应用 |
| ILT5000, SED033/A/W | 320-475 nm | 2e-9 ~ 2 W/cm? | 台式，Photoresist光刻胶/光阻材料， PCB板曝光系统，UVA光源，UV-Vis光源 |
| ILT2400, SED033/A/W | 320-475 nm | 2e-7 ~ 2 W/cm? | 手持式，Photoresist光刻胶/光阻剂，同上 |
| ILT1000/A/W | 320-475 nm | 2e-7 ~ 2 W/cm? | 手持式，Photoresist光刻/光阻剂， PCB板曝光系统，UVA光源，UV-Vis光源 |
| ILT1700, SED033/A/W | 320-475 nm | 7e-9 ~ 4 W/cm? | 台式，Photoresist光刻/光阻剂，同上 |
| ILT2400, XSD140A | 320-475 nm | 4e-8 ~ 0.7 W/cm? | 手持式，Photoresist光刻/光阻剂， PCB板曝光系统，UVA光源，UV-Vis光源 |
| ILT2400, XSD340A | 320-475 nm | 8e-7 ~ 10 W/cm? | 同上，大功***强度辐照探头 |
| ILT2400, XSD140B | 326-401 nm | 7e-8 ~ 1 W/cm? | 手持式，Photoresist光刻/光阻剂， PCB板曝光系统，UVA光源，UV-Vis光源 |
| ILT2400, XSD340B | 326-401 nm | 2e-6 ~ 30 W/cm? | 手持式，Photoresist光刻胶/光阻剂，高强度测量 |
| ILT2400, SSD001 | 260-400 nm | 6e-6 ~ 0.9 W/cm? | 手持式，超薄传感器， PCB板曝光系统，UVA光源，UV-Vis光源 |
