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美国IL国际光学 ILT2400+XSD340A辐照计320-475nm紫外线光阻剂测量
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美国IL国际光学 ILT2400+XSD340A辐照计320-475nm紫外线光阻剂测量

InternationalLightILT2400辐照计和XSD340A探头组成的测量系统可用于PCB印刷线路板光刻胶工艺,可测量320-475nm光阻剂作用光谱,校准于405nm,光探测器可承受辐照强度范围8e-7至10W/cm2。

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    广东 深圳 龙华区 民治街道北站社区民宝路南源商业大厦东座603-1
是否进口:否产地:美国加工定制:否
类型:手持式紫外辐照计品牌:美国International Light型号:XSD340A

美国International Light致力于提供各种独特的光刻胶专用仪器来实现这些困难的测量。ILT2400辐照计具有采用可能换分离探头设计,具有8个量级的动态测量范围,测量速度可达100μs,内置可充电电池持续长达8小时,4.3寸触摸屏显示,可横向和纵向观看,以手持价格研究质量,测光表和探测器均带NIST可溯源***17025认证校准报告。International Light XSD340A探头测量光谱范围320-475nm,校准于405nm,适用于PCB曝光系统光刻胶工艺、UVA光源强度,可测量8e-7 至10W/cm2曝光辐照强度。


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国际光学International Light XSD系列光阻剂曝光探测器

ILT2400+XSD140A:量程4e-8 to 0.7 W/cm2,响应波段320-475 nm,校准于405nm波长

ILT2400+XSD340A:量程8e-7 to 10 W/cm2,响应波段320-475 nm,校准于405nm波长

ILT2400+XSD140B:量程7e-8 to 1 W/cm2,光谱范围326-401 nm,中心波长365nm

ILT2400+XSD340B:量程3e-6 to 30W/cm2 高强度,测量光谱326-401 nm,校准于365nm

测光表及探头规格说明书download/201805/ILT2400_XSD340_SD140.pdf


美国International Light PCB印刷线路板曝光测量辐照计与探头选型表

辐照计/探头组合响应波长频谱测量范围类型及应用
ILT5000, SED033/A/W320-475 nm2e-9 ~ 2 W/cm?台式,Photoresist光刻胶/光阻材料,
PCB板曝光系统,UVA光源,UV-Vis光源
ILT2400, SED033/A/W320-475 nm2e-7 ~ 2 W/cm?手持式,Photoresist光刻胶/光阻剂,同上
ILT1000/A/W320-475 nm2e-7 ~ 2 W/cm?手持式,Photoresist光刻/光阻剂,
PCB板曝光系统,UVA光源,UV-Vis光源
ILT1700, SED033/A/W320-475 nm7e-9 ~ 4 W/cm?台式,Photoresist光刻/光阻剂,同上
ILT2400, XSD140A320-475 nm4e-8 ~ 0.7 W/cm?手持式,Photoresist光刻/光阻剂,
PCB板曝光系统,UVA光源,UV-Vis光源
ILT2400+XSD340A320-475 nm8e-7 ~ 10 W/cm?同上,大功***强度辐照探头


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