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| 是否进口：否 | 产地：美国 | 加工定制：否 |
| 类型：手持式紫外辐照计 | 品牌：美国International Light | 型号：XSD140B |
| 量程范围：7e-8 to 1 W/cm2 |
美国ILT国际光学致力于提供各种独特的光刻胶专用仪器来实现这些困难的测量。如用于ILT2400辐照计的XSD140B光探测器探头可测量326-401nm波段，辐照度范围7e-8 ~ 1 W/cm?，直径大小15x42 mm，另有XSD340B 30 W/cm?高强度探头，可针对特定波长为这些探头安装过滤片以进行精准测量。
WWW.TESTEB.COM格信达科技代理商选型报价联系，电话18823303057，QQ：2104028976
International Light XSD Detectpr系列光刻探测器
ILT2400+XSD140A：量程4e-8 to 0.7 W/cm2，响应波段320-475 nm，校准于405nm波长
ILT2400+XSD340A：量程8e-7 to 10 W/cm2，响应波段320-475 nm，校准于405nm波长
ILT2400+XSD140B：量程7e-8 to 1 W/cm2，光谱范围326-401 nm，中心波长365nm
ILT2400+XSD340B：量程3e-6 to 30W/cm2 高强度，测量光谱326-401 nm，校准于365nm
规格文档说明书download/201805/ILT2400_XSD140B.pdf
美国International Light PCB板曝光测量光刻胶辐照计与探头选型表
| 辐照计/探头组合 | 响应波长频谱 | 测量范围 | 类型及应用 |
| ILT5000, SED033/A/W | 320-475 nm | 2e-9 ~ 2 W/cm? | 台式，Photoresist光刻胶/光阻材料， PCB板曝光系统，UVA光源，UV-Vis光源 |
| ILT2400, SED033/A/W | 320-475 nm | 2e-7 ~ 2 W/cm? | 手持式，Photoresist光刻胶/光阻剂，同上 |
| ILT1000/A/W | 320-475 nm | 2e-7 ~ 2 W/cm? | 手持式，Photoresist光刻/光阻剂， PCB板曝光系统，UVA光源，UV-Vis光源 |
| ILT1700, SED033/A/W | 320-475 nm | 7e-9 ~ 4 W/cm? | 台式，Photoresist光刻/光阻剂，同上 |
| ILT2400, XSD140A | 320-475 nm | 4e-8 ~ 0.7 W/cm? | 手持式，Photoresist光刻/光阻剂， PC板曝光系统，UVA光源，UV-Vis光源 |
| ILT2400, XSD340A | 320-475 nm | 8e-7 ~ 10 W/cm? | 同上，大功***强度辐照探头 |
| ILT2400, XSD140B | 326-401 nm | 7e-8 ~ 1 W/cm? | 手持式，Photoresist光刻/光阻剂， PCB曝光系统，UVA光源，UV-Vis光源 |
| ILT2400, XSD340B | 326-401 nm | 2e-6 ~ 30 W/cm? | 手持式，Photoresist光刻胶/光阻剂，高强度测量 |
ILT2400中文版简易操作说明书download/201805/ILT2400_Quick_Manual.pdf
分析仪软件介绍文档download/201805/ILT_DataLight-Trend-Manual.pdf
